チBッセッVゃN：フめvッFピンゃFフシッ@めuテスト・開発 旁E會�ぃ�テスト�[�門会�A�Zぃ�ノウハウを僇��L�I

バルテスめ[ッHッVプは「Japan Qualityを�N�界ぃN」というテーマで取り組んぃ@おりぃZす。

旁E會�ぃ�裃X品やゃXフトゃ�ゃ@めuぃ�品�E�Fぃb世界一ぁ@ぃBいう思いがあり、
今�Z�も世界一ぃ@あり続けぃ�欃CしいぃB願っぃ�います。
そしぃ�、”日會�ぃ�ゃXフトゃ�ゃ@めu品�E�Fぃb高い”という文化を�I�L外に展開したいと考え、
その笃�一弃ZぃBしてフィッFピンぃH珃Z圁[法�R�Rを�B��立しぃZした。

フィッFピンぃbぃBぃ�も若く、そして苃A語を元�甃B語として佃\ぁvぃ�いる囃Xぃ@あり、
今�Z�のめ[ッ�ッVバル化における「英語」というゃ�ッVッbッVドを抑えるにあたり、これ�T�E上の囃XぃbありぃZせん。

弊�A�Zぃb10幃GぃH渁Bり品賃Fぃ�トーゃ\ッHゃIポート�V��E��ぃBして、日會�ぃ�品�E�Fを支えて参りぃZした。
その10幃Gぃ@蓄�D�した技術・矁E識・経�B�を存分ぃH世界ぃbぃ@癃R揃�して参りぃZす。

斁[たにゃFフシッ@めuをお考えぃ�斃P仁E外にも、
チャめAナ・プラゃPッTッbッE戃�畁Eぃ�遃N択肢ぃBしてもお彃PぃH立てると考えぃ�おりぃZす。

貃G礃Zぃ�め[ッ�ッVバル戃�畁Eぃ�一璁[ぃBして品�E�F向�N�の一劃DぃHぃFれば幃Nいです。