フィッFピンゃFフシッ@めuテスト・開発ぃ‡チBッFット:品賃FぃH敏感ぃF囃Xぃ@埃Pわれたソフトゃ’ゃ@めuテストQuality
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私達が提供するオフシッ@めuぃ‡チBッFット

分かりやすいドキチEチBッEトïƒVˆäƒNƒ…間å�@ƒA告書)の作成
一舃ƒ的にゃFフシッ@めuぃbお僇�u様とゃFフシッ@めu企æ�Eƒ…ぃBぃ@ぃb堃G所が離れており、
作æ�Eƒ…ぃ‡逃C捗状況なぃDがわからず、äƒN�僇‰にぃFるこぃBがあると言われぃ’おりぃZす。
弊ç�AƒZぃ@ぃbIEEE829/ISO2919をベッVゃPぃBしたテストドゃ…チEチBッEトïƒVˆäƒNƒ…間成果物)を作成し、
テストの參b視化ぃH劃FめておりぃZす。
ゃEゃPトメッFット
ゃFッEゃIめAトやニアゃLッ@めuよりもリッVゃRナブッHぃHテスト僇Ÿ施が可胃X。
 T テストドゃ…チEチBッEトなぃDぃ‡成果牃Dぃb苃A語とぃFります。
ゃFフシッ@めuぃ@ありぃFがら、日會ƒ氃G準の品èƒEƒFッƒベルをご提äƒZ›
テストå�[‚門会ç�AƒZぃ@ある覃F会ç�AƒZぃ‡バルテスぃ‡指å�[Žにより、スゃ…ッHや意識の底äƒNŠげを図り、
旁E會ƒぃ‡テストに近い品èƒEƒFをご提äƒZ›致します。
テストの劃P率化ぃHも力を入れており、ALL Pair法といったテゃPト技法を甃Bいて
劃P率的ぃFテストをご提供しぃ’おりぃZす。
苃A語が絁Bむテストでぃ‡儃F位怃@
フィッFピンぃ@ぃb苃A語を元ƒ甃B語としており、
テストåƒbƒZ豁Bもしくは各çƒBƒ‡ドキチEチBッEトで苃A語が佃\われぃ’いる裃X品のテストは、
より劃P果が期åƒZ…できます。
フィッFピンがオフシッ@めuぃH遃Dしている理由
苃A語による円æƒT‘なゃEミュニケッVゃLッ@ッEが可胃X
苃A語による円æƒT‘なゃEミュニケッVゃLッ@ッEが可胃X。 フィッFピンぃ@ぃb
苃A語を元ƒ甃B語として指僇šしぃ’おり、発韃EもアチBッFゃH苃A語に近く、
聞き取りやすい。
豊åƒbŒな劃G働力
苁E幃G屁AぃHぃFればぃFるほぃD亃R叁vがå�Ašく、
今åƒZŒも多くぃ‡劃G働力ぃ‡碃R保が見èƒZƒVぃZれる。
PEZA(çƒIŒæƒNˆ特匃R)の刃D甃B
閁u税・租çƒBŽの免除やçƒBŽ関手çƒJšの簁B畁E化、
外国亃Rぃ‡雇用ぃFぃDが可胃X。
覃F旁E囃X
2012幃G11月アゃ’ッEゃEッEゃIッHティッEめ[誃\柃TぃHよるぃB、
フィッFピン亃Rぃ‡9剃C仁E上が「日會ƒをå�EƒXき」と回烅”。
他国ぃH比べ、日會ƒぃ‡案äƒTƒJを円滑に遂è�BŒできる。

PEZA(çƒIŒæƒNˆ特匃R)にぁAいて

品èƒEƒFぃH寃Zする意胅˜

フィッFピンぃ‡経æƒNˆ特匃Rぃ@允E居者にぃb様々なチBッFットがあり、VALTES Advanced Technologyも
PEZAぃH拁@炃Pをæƒ@‹えぃ’おりぃZす。

PEZAぃ‡チBッFット

◇èƒVƒN允EされたèƒE‡本訃…備、スペアパーツ、原材料およぃE供çƒIƒ’品に寃Zする閁u税および租çƒBŽの免除
→ テストåƒbƒZ豁Bぁ@けでぃFく、テゃPトに必胒�な訃…備も免除。
◇çƒBŽ関手çƒJšの簁B畁E化
→ テストåƒbƒZ豁Bぃ‡ゃPピーディッVぃF較N送が參b胃X。通åƒNƒNぃ‡通関ぃBぃb刁Eぃ‡ッHッVトとぃFり、
  ゃPピーディッVぃF裃X品および機材ぃ‡較N送が參b胃Xぃ@す。
◇å�A–国亃Rぃ‡雇用
→ バルテスぃ‡旁u存ç�AƒZ品Bぃ‡雇用が可胃X。 (日會ƒ語でぃ‡ゃEミュニケッVゃLッ@ッEも可胃X)
閁u送vッFッEゃb
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お問い合わせぃbこちら ゃFフシッ@めuテスト・開発ぃH閁uするお問い合わせを受けäƒT˜けぃ’おりぃZす。
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