デジゃ\ッH攃Z送テゃPト「ストリッVチ@受äƒ\�Bテスト」ïƒVš日會ƒ斃P式のデジゃ\ッH攃Z送テゃPトに牃P化
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ゃPトリッVチ@受äƒ\�Bテスト

狃ƒ臃FテストストリッVチ@をäƒXƒ\甃Bし、æƒ@˜々なテストに寃Z応

「日ぃZたぎ」や「åƒPƒGぃZたぎ」なぃDゃ\めAミンめ[ぃHよるテストや、異布Nデーゃ\受äƒ\�B時の挙動ぃ‡碃R認なぃD、僇Ÿ放送æƒE�uぃ@ぃb
ぃFかなかテゃPトしぃHくいテストé�@…目も、テゃPトストリッVチ@をäƒXƒ\甃BすることぃHより、ç�uƒR実にテストがぃ@きます。
A-PAB配åƒNƒのテストストリッVチ@ぃH劁@え、åƒVŠç�AƒZぃ@狃ƒ臃F開発した圁[デジ、BS、ワッEゃTめ[甃BテストストリッVチ@を情�v布N糃T、異布N糃T
取り合わせて保有しておりぃZす。
バルテスめ[ッHッVプでぃb、テゃPトストリッVチ@ぃHよるテストの訃…備・璁[境も完備しておりぃZす。
打ち合わせの上、åƒ\…胒�なテストをご提供致します。

テストイチBッVゃN

デジゃ\ッH攃Z送受俁B機のゃPトリッVチ@受äƒ\�Bテスト

1. ARIBぃH粃Z通した日會ƒ亃RテストエッEゃNニアがサポート
ARIBぃH粃Z通した日會ƒ亃RテストエッEゃNニアが、サポートするこぃBぃHより、
旁E會ƒ氃G準のテスト品賃Fをç�uƒR保。
必胒�なテストストリッVチ@を選択し、テゃPトしぃZす。
俁B參L癃R生器ぃ‡操äƒXœやテストçƒI�果ぃ‡刁A定も、熟緃GしたゃBッEゃNニアがåƒbƒZ応しぃZす。
2. 狃ƒ臃F開発したテストストリッVチ@をäƒ\�有
バルテスめ[ッHッVプでぃbデジゃ\ッH攃Z送関送v囁v体より配布のテストストリッVチ@ぃ‡
補僇Œとして、ARIBを分析し、èƒJƒEりないテゃPトケッVゃPをæƒG—い凃Rし、
歁v布N糃Tぁ@けでぃFく、異布N糃Tも含めたテストストリッVチ@を独臃F開発。
圁[デジ、BS、ワッEゃTめ[、マッHチメディめu攃Z送に閁uする狃ƒ臃FテストストリッVチ@を
合èƒBˆ1,200會ƒ保有しておりぃZす。
3. テスト環境僇Œ備
俁B參L癃R生器、OFDM変èƒFƒ\噃B、アナラめAゃJ、TS作成ツーッHぃFぃD、
ゃPトリッVチ@受äƒ\�Bテストに必胒�な各çƒBƒ‡訃…備・機材を僇Œ備しておりぃZす。

ゃPトリッVチ@受äƒ\�Bテストの実çƒNƒZ

さまざまぃF攃Z送サッVビス、プッ…ダゃbト、æƒDŸ能ぃ‡実çƒNƒZがあります。

ゃIッVビス プロダゃbト 機能
ッT圁[デジ
ッTBS
ッTCS
ッTッbッEゃTめ[
ッTチuバキチvゃP
ッTデジゃ\ッHテレビ
ッTIPTV-STB
ッTゃPマートフゃDッE
ッT搃R布b雃T詃A
ッT3æƒE�uチュッVナー
ッTッbッEゃTめ[チュッVナー
ッT車èƒV‰チチEッVナー
ッT昁@像/韃E壁[
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