デジゃ\ッH攃Z送テゃPト「ストリッVチ@受\Bテスト」V日會斃P式のデジゃ\ッH攃Z送テゃPトに牃P化
ゃPトリッVチ@受\Bテスト

狃臃FテストストリッVチ@をX\甃Bし、@々なテストに寃Z応

「日ぃZたぎ」や「PGぃZたぎ」なぃDゃ\めAミンめ[ぃHよるテストや、異布Nデーゃ\受\B時の挙動ぃ碃R認なぃD、僇放送Euぃ@ぃb
ぃFかなかテゃPトしぃHくいテスト@目も、テゃPトストリッVチ@をX\甃BすることぃHより、uR実にテストがぃ@きます。
A-PAB配NのテストストリッVチ@ぃH劁@え、VAZぃ@狃臃F開発した圁[デジ、BS、ワッEゃTめ[甃BテストストリッVチ@を情v布N糃T、異布N糃T
取り合わせて保有しておりぃZす。
バルテスめ[ッHッVプでぃb、テゃPトストリッVチ@ぃHよるテストの訃備・璁[境も完備しておりぃZす。
打ち合わせの上、\胒なテストをご提供致します。

テストイチBッVゃN

デジゃ\ッH攃Z送受俁B機のゃPトリッVチ@受\Bテスト

1. ARIBぃH粃Z通した日會亃RテストエッEゃNニアがサポート
ARIBぃH粃Z通した日會亃RテストエッEゃNニアが、サポートするこぃBぃHより、
旁E會氃G準のテスト品賃FをuR保。
必胒なテストストリッVチ@を選択し、テゃPトしぃZす。
俁B參L癃R生器ぃ操XやテストI果ぃ刁A定も、熟緃GしたゃBッEゃNニアがbZ応しぃZす。
2. 狃臃F開発したテストストリッVチ@を\有
バルテスめ[ッHッVプでぃbデジゃ\ッH攃Z送関送v囁v体より配布のテストストリッVチ@ぃ
補僇として、ARIBを分析し、JEりないテゃPトケッVゃPをGい凃Rし、
歁v布N糃Tぁ@けでぃFく、異布N糃Tも含めたテストストリッVチ@を独臃F開発。
圁[デジ、BS、ワッEゃTめ[、マッHチメディめu攃Z送に閁uする狃臃FテストストリッVチ@を
合B1,200會保有しておりぃZす。
3. テスト環境僇備
俁B參L癃R生器、OFDM変F\噃B、アナラめAゃJ、TS作成ツーッHぃFぃD、
ゃPトリッVチ@受\Bテストに必胒な各B訃備・機材を僇備しておりぃZす。

ゃPトリッVチ@受\Bテストの実NZ

さまざまぃF攃Z送サッVビス、プッダゃbト、D能ぃ実NZがあります。

ゃIッVビス プロダゃbト 機能
ッT圁[デジ
ッTBS
ッTCS
ッTッbッEゃTめ[
ッTチuバキチvゃP
ッTデジゃ\ッHテレビ
ッTIPTV-STB
ッTゃPマートフゃDッE
ッT搃R布b雃T詃A
ッT3EuチュッVナー
ッTッbッEゃTめ[チュッVナー
ッT車VチチEッVナー
ッT昁@像/韃E壁[
ッT字P
ッTBML
ッTCA
ッTPSI/SI
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