ゃXフトゃ�ゃ@めuテストサッVビス｜フめvッFピンゃFフシッ@めuテスト・開発旁E會�ぃ�テスト�[�門会�A�Zぃ�ノウハウを僇��L�I

世界氃G準の高品賃FぃFテストを低コゃPトで実現

近�P�G、ソフトゃ�ゃ@めuぃ�夃@規�B�B化や複雑化により、ソフトゃ�ゃ@めuテストの雁v易�R��や
ゃEゃPトは増加傃Z向にありぃZす。
ゃXフトゃ�ゃ@めu開発プロゃNゃ@ゃbトがゃEゃPト面ぃ@成功するか�A�A敗するかぃb、
ゃXフトゃ�ゃ@めuぃ�テストをいかぃH劃P率的ぃH行うことができるかどうかぃH
かかぁvぃ�いるぃBいえぃZす。

ゃXフトゃ�ゃ@めuテスト�C�T甃Bぃ�夃@幅な削�N�手法としてここ敁[幃G脚光を�I�GぃEぃ�いるぃ�が、
亃R仃J貃Tぃ�有利ぃF浃L外の技術者を洃T甃Bして、テゃPト�C�T甃Bぃ�劃G働力ゃEゃPト全体を
圃@縃�する「オフシッ@めuテスト」と呃Vぁ[れる手�E�です。

このゃFフシッ@めuテストを品�E�Fを落ぃBすこぃBぃFく僇�現するぃ�が、
VALTES Advanced Technologyが提供するオフシッ@めuテストサッVビスぃ@す。

IEEE829ぃH準拠したテストフッ�ッV

VALTES Advanced Technologyぃ@ぃbIEEE829ぃH準拠したテストフッ�ッVを�u�R立しぃ�おり、
テスト�B�画ぃHぃ�テスト全体の斃P針なぃDを�B��定し逃CめていくことぃHよっぃ�、
仁E降のフェッVゃRぃHぃ�当初ぃ�斃P針から逃N脃Aする事なくテゃPトを逃Cめていくことができます。

▁@IEEE829ぃHぁAいて

IEEE（アめAトリプルめAッV、The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.）は、
めuチBッFゃH合�B�国ぃH會�郃Bを持ぁA雃T気・雃T子技術僅��会であり、IEEEぃ�癃R行する�B��R�胒��@�Vぃb儃Fれた標�R�として
世界七�ぃ@刃D甃B、参煃@されぃ�います。

IEEE829ぃb、そぃ�IEEEが発行しぃ�いる標�R�胒��@�Vぃ�1ぁAぃ@あり、ソフトゃ�ゃ@めu開発ぃHおけるテゃPト�L�E程で
作成されるべきドゃ�チEチBッEトの構成ぃB甃B語を標�R�胒��@�VぃBして定めぃ�います。

テストフッ�ッV

ヒアッFッEめ[

仁E下のドキチEチBッEトからテゃPト�b�Z豁Bぃ�仕�@��F�\柃Tや問題の抃X凃Rを�B�いぃZす。

ッT仕�@�書　　ッT取扱い�F��明書　　ッT過去ぃ�不具合　　ッT過去ぃ�テストケッVゃP

テスト�B�画

仁E下のドキチEチBッEトからテゃPト�b�Z豁Bぃ�仕�@��F�\柃Tや問題の抃X凃Rを�B�いぃZす。

ッTテストの元B体指針　　ッT品�E�F獃C得目標　　ッTテストの盃�的
ッTテストのめuプロッVチ　ッTテストの体制（胒�員、�X�\甃BツーッH、�B��備、スゃAゃNチEッVッH）烅�

テスト�B�画フェッVゃRぃHおける成果物

ッTテスト�B�画曃N　　ッTWBS　　ッT機能一覃@

テスト�B��計

テスト�b�Z豁B項目ぃ�詃E紁[定�Z�D、また、どぃ�ようぃFテスト技法を甃Bいてテストを実現するかなぃD、
テストの訃�計�T��@�を定�Z�Dします。
さらぃH要�A��T��@�書をテゃPトケッVゃPぃ�閁u送vを�A�RすこぃBぃHより、各テストレベルぃHおいぃ�、
テストセットぃ�めuッVゃ�テクチャ及びゃHバレッジぃ�トレッVゃP訃�定に佃\甃Bします。

劃P果的ぃF技法の遃N択: テスト�B�画ぃ@定�Z�Dした「品賃F獃C得目標」を達成するためぃ�、
テストの「品賃F戃�術」を汃R定しぃZす。

ッT組み合わせ技法�V�直行�B�B、All-Pair法なぃD）　ッT同倁AッT境界倁A分析　ッT犃J態遷秃T技法

抜け漏れぃ�ぃFい�D�能ぃ�洗い凃Rし: バルテスぃ@ぃb、テゃPト�B��計の際に「�D�能覃E炃P一覃@衃B」を作成し、テゃPト�b�Z豁B機能ぃH寃Zし
「抜け�V�れ」の焁BいテゃPト�B��計をします。

機能覃E炃P一覃@衃B: テスト�b�Z豁Bぃ�機能を階屁AごとぃH抃X凃Rし、抽凃Rした機能ぃH寃Zし、
ぃDぃ�ようぃFテスト胒�E炃Pが僅�在するぃ�かをマトッFゃbゃPぃHしたものぃ@す。

テスト�B��計フゃ@ッVゃRぃHおける成果物

ッTテスト�B��計�T��@�書　　ッT機能覃E炃P一覃@　　ッT囁@子�[�G準�B�B　　ッT犃J態遷秃T衃B

テスト僇�施

テストケッVゃP作成: テスト�b�Z豁Bぃ�機能を階屁AごとぃH抃X凃Rし、抽凃Rした機能ぃH寃Zし、
ぃDぃ�ようぃFテスト胒�E炃Pが僅�在するぃ�かをマトッFゃbゃPぃHしたものぃ@す。

めAッEゃLデントレポート: 裃X品の問�B�を「�N�具合」、「�T��@��u�R認」、「推奃B事�@�」と3殃I階に分けぃ�堃A告しぃZす。
明らかな不具合�T�E外にもユッVゃJビリティ的に攃P善が望ましいものぃZぃ@吃Hめて
堃A告するこぃBぃHよっぃ�、お宁u様の夃@切な裃X品の品�E�F向�N�に劃Fめます。

テスト僇�施フェッVゃRぃHおける成果物

ッTテストケッVゃP　　ッTテストロめ[　　ッTめAッEゃLデントレポート

ゃIマリ提出

テストサマリッVッ�ポート: テスト�@�A告をテストサマリッ�ポートという彁uぃ@お僇�u様に提出します。
プロダゃbト、プッ�ゃTゃPぃ�品�E�FぃHぁAいて分析ッT堃A告するこぃBぃHよっぃ�、
お僇�u様の資産ぃBして蓄�D�され、�T��Z�の開発ぃH彃P立てるこぃBができます。

ゃIマリ提出フェッVゃRぃHおける成果物

ッT不具合分析�V��N�具合の傃Z向、�N�具合が頃T凃Rする機能ぃFぃD）
ッTテスト�b�Z豁BぃH寃Zする掃B奃B事�@�
　（プッ�ダゃbト、プッ�ゃNゃ@ゃbトに寃Zする笃�3者目線からのご提案�V�